<% @ language="vbscript" %> 集成电路测试仪|电路板在线测试仪|电路维修测试仪|电路板故障检测仪
    无论是用过汇能测试仪的,还是初次接触到汇能测试仪的人, 总会对汇能测试仪有这样那样的问题。主要包括以下三个方面:
    1.为什么汇能测试仪设计成这个样子?为什么采用这种设计技术,对用户有什么好处?
    2.汇能测试系统有许多测试功能,每种测试功能又有许多子功能、测试选项。 为什么设置这些功能、子功能,为什么有这些选项,设计上是如何考虑的,主要解决哪些测试上的问题;
    3.其它一些关于测试仪本身的问题。
    实际上,其中大多数问题,在相关材料里都有说明,但都隐含在某些章节里。在本栏目中,将把它们分成一个一个的问题,一一罗列出来,单独加以说明,方便尽快找到某个问题的答案。
  上下左右看汇能...
为什么汇能的前面板那么复杂? 2008.10.15
汇能后面板上的电源输入插孔有何用? 2008.10.10
为什么汇能测试仪设置48个数字通道? 2008.10.08
为什么汇能要设8个GUARD信号? 2008.10.07
为什么汇能有的型号有160个模拟通道? 2008.09.25
为什么汇能的数字通道输入阈值支持自定义? 2008.09.18
为什么汇能的数字通道输出电平可设? 2008.09.17
为什么汇能的ASA(VI)测试信号幅度分的那么细? 2008.09.15

测试运放时,为什么测试夹荡空也能测试通过?

2008.09.12
ASA曲线的“自动灵敏度调整”有什么作用? 2008.12.08
ASA中的“同一器件、不同管脚可设置不同测试参数”用来解决什么问题? 2008.12.08
汇能测试仪的“电容测试”有何特别之处? 2008.12.08
双棒曲线比较时为什么要有“BEEP声音”提示? 2008.12.08
为什么要“自动识别非法曲线”? 2008.12.08
在ASA测试中,频率1Hz到1000 Hz的作用是什么? 2008.12.08
AFT测试功能和ASA测试功能的区别是什么? 2008.12.08
AFT测试功能的特点是什么? 2008.12.08
AFT的测试文件解说 2008.12.08
AFT的测试原理是什么? 2008.12.08
什么是AFT测试功能? 2008.12.08
为什么要有AFT测试功能? 2008.12.08
在AFT测试中,为什么要有间接比较测试功能? 2008.12.09
在AFT测试中,为什么要有直接比较测试功能? 2008.12.09
为什么汇能的前面板比同类产品内容多? 2008.12.09
脚踏开关在测试中的作用? 2008.12.09
在逻辑器件性能测试中,为什么还有“设置测试参数”选项? 2008.12.09
汇能测试仪在测试三端器件时,为什么有8种触发脉冲信号可供选择? 2008.12.10
电路在线状态识别功能的强弱在维修中的意义? 2008.12.10
在逻辑器件功能测试前,为什么要进行非法电平检查? 2008.12.10
在逻辑器件功能测试时,为什么要进行电源电压检查? 2008.12.10
汇能测试仪为什么要有逻辑器件性能测试? 2008.12.10
汇能测试仪逻辑器件性能测试的主要参数是什么? 2008.12.10
汇能的新逻辑测试器件库的特点是什么? 2008.12.10
在功能测试前为什么要进行接触检查? 2008.12.10
在逻辑器件功能测试时,为什么要有加电延迟的功能? 2008.12.10
在逻辑器件功能测试中,为什么要有多种测试频率? 2008.12.10
为什么在线提取被测试器件各管脚的正反向阻抗? 2008.12.10
什么是电路板图像建库测试? 2008.12.10
电路板图像建库测试的功能特点是什么? 2008.12.10
电路板图像建库测试的适用范围? 2008.12.10
为什么要有电路板网络测试功能? 2008.12.16
汇能测试仪的网络测试特点是什么? 2008.12.16
在网络测试时,为什么要有PROTEL网络表导入功能? 2008.12.16
在网络测试时,为什么要有单个元器件所有管脚的网络速查功能? 2008.12.16
在网络测试时,为什么要有指定元器件之间网络速查功能? 2008.12.16
运放建库,为什么要采用填表式建库方式? 2008.12.16
汇能检测运算放大器的方法有何独特之处? 2008.12.16
汇能测试仪测试运算放大器的特点是什么? 2008.12.16
汇能测试仪运算放大器测试参数设置中,频率选择的窍门? 2008.12.17
如何测试库中没有的运算放大器? 2008.12.17
为什么要设置运放在线学习比较功能? 2008.12.17
运算放大器测试中,为什么还要设置输入、输出匹配阻抗? 2008.12.17
在运放测试界面中,为什么还要有“切换状态/封装图”功能? 2008.12.17
RAM存储器功能测试的基本方法? 2008.12.17
ROM存储器功能测试的基本方法? 2008.12.17
存储器功能测试时,为什么有设置阈值电平功能? 2008.12.17
为什么要设置存储器在线快速测试功能? 2008.12.17
为什么要设置只读存储器空白检测功能? 2008.12.17
为什么要有PROM内容显示功能? 2008.12.17
存储器功能测试时,为什么有加电延迟功能? 2008.12.17
测试MOS管时,为什么要有设置漏极串联电阻功能? 2008.12.17
测试MOS管时,为什么要有设置栅极电压增量功能? 2008.12.17
测试MOS管时,为什么要有设置栅极起始电压功能? 2008.12.17
测试MOS管时,为什么要有设置漏极电压功能? 2008.12.17
测试三极管时,为什么要有设置基极起始电流功能? 2008.12.17
测试三极管时,为什么要设置基极电流增量功能? 2008.12.17
测试三极管时,为什么要有设置集电极电压功能? 2008.12.18
汇能测试仪测试MOS型晶体管的基本原理是什么? 2008.12.18
汇能测试仪测试双极性晶体管的基本原理是什么? 2008.12.18
为什么要有晶体管离线输出特性曲线测试功能? 2008.12.18
为什么要有晶体管输出特性曲线学习比较测试功能? 2008.12.18
为什么要有晶体管双器件离线输出特性曲线直接比较测试功能? 2008.12.18
UDT的测试原理是什么? 2008.12.18
汇能测试仪UDT功能能测试哪些电路、器件? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么即有“测试全部”功能还要有“执行子测试”功能? 2008.12.18
为什么要设置UDT的子测试功能? 2008.12.18
为什么要有UDT测试文件? 2008.12.18
为什么要有UDT功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有测试至指定节拍功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有存储子测试功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有大、小十字光标的互换功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有波形改写功能? 2008.12.18
UDT测试中,为什么要有设置上拉电阻和下拉电阻功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有替换期望输出功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有“显示/隐藏测试及波形编辑窗口”功能? 2008.12.18
在UDT测试中,为什么要有测试失败提示信息? 2008.12.18
在UDT测试中为什么要有子测试说明? 2008.12.18
在UDT测试中为什么要有“清除实测波形”功能? 2008.12.18
汇能测试仪测试光耦的哪几个主要参数? 2008.12.18
汇能测试仪测试光耦的特点是什么? 2008.12.18
为何还要设置光耦在线学习比较功能? 2008.12.22
为什么说汇能测试仪测试光耦的方式安全性很高? 2008.12.22
为什么有光耦填表式建库? 2008.12.22
为什么在光耦测试工具中设置了测试钩选项? 2008.12.22
在光耦离线测试中,为何还有“设置测试参数”功能? 2008.12.22
 
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