|
2600MX/C |
2000MX/C |
2600DX/C |
2000DX/C |
2600DX/B |
2000DX/B |
1600DX/B |
1000DX/B |
1600/4880 |
1000/4880 |
1600/4840 |
1000/4840 |
参数测试模块 |
有 |
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有 |
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有 |
|
有 |
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数字通道 |
电平范围 |
全逻辑电平通道40+8路(8路总线竞争屏蔽通道) |
5V逻辑电平通道40+8路(8路总线竞争屏蔽通道) |
驱动电流 |
>300mA |
>200mA |
最高频率 |
610Ktv/S (测试向量/秒) |
45Ktv/S (测试向量/秒) |
模拟通道 |
通道个数及属性 |
160个双属性通道 |
80个双属性通道 |
80个单属性通道 |
40个单属性通道 |
最高正弦频率 |
2.6Khz |
1Khz |
正弦幅度及最大电流 |
±1V~±28V 步距 0.5V,150mA |
脚踏开关 |
支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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逻辑器件在离线功能测试 |
支持全逻辑电平系列的器件 |
支持5V逻辑电平系列的器件 |
逻辑器件离线参数测试 |
全电平 |
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全电平 |
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全电平 |
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5V电平 |
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ASA测试 |
多/单端口 |
单端口 |
电容、电感定量测试 |
支持 |
三端元件功能测试 |
支持 |
电路板图像建库测试 |
支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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*存储器在离线功能测试 |
支持全逻辑电平系列的器件 |
支持5V逻辑电平系列的器件 |
运放在离线功能测试 |
支持测试夹、测试探棒 |
支持探棒 |
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支持探棒 |
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光电耦合器测试 |
支持测试夹、测试探棒 |
支持探棒 |
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支持探棒 |
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晶体管输出特征曲线测试 |
支持 |
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支持 |
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支持 |
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支持 |
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电路板网络测试 |
160通道,模拟法开-短阈值25Ω±5Ω |
80通道,模拟法开-短阈值25Ω±5Ω |
40通道,模、数法,开-短阈值25Ω±10Ω |
AFT测试 |
支持 |
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支持 |
|
支持 |
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支持 |
|
支持 |
|
支持 |
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**UDT测试 |
数:40
模:2/160 |
数通:40 |
数:40
模:2/160 |
数通:40 |
数:40
模:2/80 |
数:40 |
数:40
模:2/80 |
数:40 |
数:40
模:1/80 |
数:40 |
数:40
模:1/40 |
数:40 |
*存储器离线参数测试正在开发之中
**数:40 表示该功能支持40个数字通道。模:2/160 表示在160个模拟通道中,该功能可同时使用任意两个。余类推。改进恕不另行通知