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本功能更适用于小批量、多品种的电子产品研发、生产单位——由设计人员开发测试,由调试人员使用开发 好的测试排查故障。 11.1测试特点及应用 1.元器件门类繁多,总会碰到一些器件,无法扩充到测试仪的测试器件库中。这时只要了解它的管脚定义 以及工作原理,就可以利用UDT进行功能测试。比如,测试的模数、数模转换器件。 2.对电路板上局部电路进行功能测试。局部电路可看成一个集成器件,装在电路板上。除了该局部电路的 输入、输出和通道的连接麻烦一些外,和真正元器件的在线测试并无不同; 对本测试功能而言,同样可用于对整个电路板电路进行功能测试。但测试信号定义、故障定位要复杂得多。 3.本测试要求对被测电路有所了解。 11.2 UDT的实现方法 UDT测试与“信号发生器+示波器”测试法本质相同,但有如下特点: 1.测试仪提供彼此可同步的,且具有后驱动能力的40个数字通道——每个通道可任意定义为数字输出或输 入、两个可以指定到任意(1600DX以上型号)通道上的模拟输出、模拟输入; 2.借助计算机,可以通过在屏幕上“画”的方法定义测试信号。使用十分方便; 3.一旦由有经验的工程师建立好了被测电路或器件的测试文件,普通技术人员能够利用测试文件快速检测 复杂电路或者器件的故障。 测试文件: 为了简化测试信号设计,提高故障定位精度,可以分多次完成对一个器件/电路的测试——每次只检查它的 部分功能。比如,对一个数字计数电路,一次测试它的置数功能,另一次测试它的计数功能;对一个模数转换器 ,一次测试它的高位转换,另一次测试它的低位转换等等。进行一次测试所需要的信息组合,叫做一个子测试。 一个子测试由激励信号、标准(正确)响应信号、故障导航信息(测试说明、失败提示信息等)组成。 激励信号和故障导航信息一般由有经验的、了解被测对象工作原理的工程师,或者就是电路的设计者,根据 具体测试要求来定义;被测对象对激励信号的标准响应可从好电路上学习得到。 一个电路或器件的所有子测试存放在一个文件中,称为该电路或器件的测试文件。 11.3 使用过程 a.开发测试文件: 1.开发激励信号:依据被测试器件/电路的工作原理和具体测试要求,确定好激励信号,从屏幕上 “画 ”(输)入计算机; 2.求出标准响应信号: a) 根据激励信号和被测器件/电路的工作原理,推导出响应信号,输入计算机; b) 将激励施加到确定无故障的器件/电路上,从输出取回实测响应信号,作为标准存入计算机; 3.最好在其它好的电路/器件上再验证。 b.故障检测: 1.调出相应测试文件,选中子测试,按照导航信息连接好测试通道和被测电路/器件,执行测试。 2.根据实测响应信号和标准响应信号的差异判断有无故障。如果测试失败,根据导航信息提示分析故障。 11.4 测试方式执行指定子测试; 1. 执行指定子测试到指定节拍并保持现场; 2. 循环执行指定子测试; 3. 将实测响应保存为标准响应; 4. 执行测试文件中的全部子测试。 11.5 应用举例 a. 7524的工作原理 7524是一个八位数模转换器,有电压/电流两种工作模式。在电压模式下,若在OUT1脚上施加一个稳定电压 Vr,会在Vref脚上输出电压Vout,并且 Vout=(DB7...DB0)*Vr/256。 b.确定测试方案 测试7524的电压工作模式。 1.7524的工作时序:在/CS为低时,/WR下降沿将数据线上的数字信号打入器件,进行转换。参见下图:
3.转换好的电压从管脚Vref上取回。 设计转换11个数据:(0, 25,50,75,100,125,150,175,200,225,255),其八位二进制表示依次 为(00000000,00011001,00110010,01001011,01100100,01111101,10010110,10101111, 11001000,11100001,11111111)。转换出的11个电压值近似为:(0, 25,50,75,100,125,150,175, 200,225,255)*2.5V/256。一个/WR周期转换一个电压点。共需11个周期。 未考虑对Rf的检测。 c.确定连接方案 规定离线测试在离线测试板上进行,并且测试时器件第一脚必须和测试仪第一通道对齐,由此得出引脚和测 试通道的连接关系,如下图所示:
根据设计方案,这里需要在离线测试板上,用短路块把VDD接5V,把GND、OUT2接地;另外,在VDD和GND之 间并一个滤波电容。 第二步:输入设计方案 1.进入UDT后,选择“新建测试文件”; 2.在子测试列表窗口单击右键,选择新建子测试,各项输入为: 子测试名称: Test7524_VoltMode 子测试描述:(测前导航信息) 测试电压工作方式。没有检测“Rf”。本测试在离线测试器上完成。测试时注意对齐第一脚。 外电路连接:VDD接5V;GND、OUT2接地;VDD和GND之间并一个滤波电容。 测试失败信息提示:(测后导航信息) a. 由于存在系统偏差,若测试波形与预期波形有一定程度的平移,可判通过 b. 检查硬件连接、器件是否夹好、管脚是否干净后重测; 输入完成退出设置菜单后,打开该子测试,切换到测试及波形编辑窗口,单击鼠标右键,弹出设置浮动菜单 ,选择添加结点通道。逐个添加,共添加12个节点通道及波形。 器件输入信号波形要仔细“画”。如果执行循环测试,用示波器观察到的信号波型,和屏幕显示的相同。器 件输出信号可粗略定义。 在参数设置中,OUT1设置为A_I(模拟A定义为器件输入,Vref设置为B_O(模拟B定义为器件输出)。 第三步:执行测试 做好硬件连接,执行子测试,再接着执行将实测响应保存为标准响应后的测试界面如下:
2.第二列是用户指定的信号名; 3.第三列是把信号分配到的通道号; 4.波形显示区最上方是时标。一个单位一拍。 第二个信号为黄色,是从一个好的7524器件上读回的。鼠标位置为第7个转换数据,位于第21拍,显示电压 为1.47V。 其它信号皆为绿色,由用户定义,由测试仪输出。 保存子测试、保存测试文件。 第四步:测试器件 1. 打开测试文件; 2. 选中子测试Test7524_VoltMode 3. 按子测试说明提示做好硬件连接; 4. 进入测试界面,执行子测试。 参见下面测试结果界面。(使用详细显示模式方式) 1. 状态I表示信号由测试仪输出,作为器件的输入; 2.对数字信号(信号3到12),测试仪在按要求输出时(每个信号第一行所表示),还将实际输出读回( 第三行)。如果两者不一致,说明该信号没有正确施加。
4.如果标准和实测比较超差,提示“测试失败”。可结合失败波形和相关导航信息,进一步分析判断,或 确定器件有故障。 |
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