第八章 存储器在、离线功能测试

    存储器属数字器件。除了测试代码很长之外，其它与数字逻辑器件基本相同，所以测试处理也大致相同。使用本功能可对3000余种存储器件，在线/离线下进行存储功能测试。
    8.1 基本测试方法
    1．对于只读存储器（PROM,EPROM）
    事先从好的、存储有同样内容的器件中，读出所存储的内容，存成数据文件，作为测试的参照标准。该过程叫做 学习；
    读出被测器件中的内容，于相应的数据文件进行逐字节比较，完全一致说明被测器件物故障；否则详细显示出错 地址、该地址中的正确内容和当前出错内容。该过程叫做比较。
    2．对于读写存储器（SRAM,DRAM）
    向某地址中写入01010101，读出后检查；再写入10101010，读出后检查。两次检查都正确，说明该存储单元功 能正常。
    如果存储器中存有内容，测试后将被修改，所以对于用电池支持的SRAM存储器，除非有办法恢复原有内容，否 则不能使用本功能进行测试。
    3．完全测试
    检查每一个存储单元。
    4．快速测试
    从存储器的全部地址单元中，按一定算法选取其中若干单元进行测试。
    8.2 测试功能
    1．读写存储器（SRAM,DRAM）
    1）离线“完全测试”；
    2）在线“快速测试”；
    3）在线“完全测试”；
    2．只读存储器（PROM,EPROM）
    1）离线“空白检测”；
    2）离线“完全学习”；
    3）离线“完全比较”；
    4）显示离线“完全学习”内容；
    5）转换离线“完全学习”内容；
    将内容转换成*.bin文件用于烧写。
    6）在线“快速学习”；
    7）在线“快速比较”；
    8）显示在线“快速学习”内容；
    9）在线“完全学习”；
    10）在线“完全比较”；
    11）显示在线“完全学习”内容；
    12）转换在线“完全学习”内容
    将内容转换成*.bin文件用于烧写。
注意界面中以反汇编形式显示的学习内容。