第七章 光耦测试

    概要：接口器件是电路板的故障高发区。光耦是应用最为广泛的接口器件之一。为了得到较好测试效果，专 门设置光耦测试功能。本功能的特点是，对离线光耦，不但能够检测功能故障，还能够通过测试包括电流转换系 数在内的4个主要直流参数，检测性能下降导致的故障；对在线光耦，能够测出输入-输出转换曲线。
    7.1 测试原理
    光耦是电流控制器件。它的工作过程为：在光耦的输入施加一个电流信号，通过光电转换，在输出上产生一 定电流。
    维修检测中由于条件所限，常常用一个电压信号代替电流信号，甚至一些低档的维修测试仪也是这样做法， 所以效果较差。
    本功能完全按照光耦特点进行测试。
    1． 在线功能测试：
    在光耦输入施加一个电流脉冲，检测光耦输出端在5V电压、1KΩ负载上能否产生满足TTL器件电平标准（低 电平不大于0.8V，高电平不小于2.4V）的电压摆幅。为了满足不同测试要求，脉冲电流的大小、输出端上拉电 压、上拉电阻、判断输出高低的阈值电平，都允许用户设置；
    比如，为了检测能否与12V的CMOS器件匹配使用，可将5V上拉电压改为12V，高、低电平阈值改为（9V,3V） 。
    2． 离线性能（参数）测试：
    参数测试须在离线条件下进行。本功能检测光耦器件的四个主要直流参数：
    CTR： 输入-输出电流传输比；
    Uf： 二极管最大允许输入电压；
    Uces：三极管最小输出饱和电压；
    Ice0：三极管输出漏电流。
    以上参数均在光耦器件手册中规定的条件下，并且按照手册中给出的标准进行测试。
    不同光耦器件参数可能不同。本系统已按照光耦器件手册，为近500个常用型号建立了光耦器件库。允许用 户自行扩库。
    7.2 主要测试方式
    1．单器件测试；
    2．双器件对照测试；
    3．循环测试；
    4．在线学习-比较测试：
    学习：将对每个器件设置的测试参数以及在好板上的测试结果存放在计算机中；
    测试：用计算机中存放的测试参数，测试故障板上的相应器件，并且同时显示、比较学习和当前测试结果。
    7.3 测试举例（对pc817的测试结果界面）