6．存储器件在线/离线功能测试（CFT与CFT-I不支持此项功能）

除了测试代码长之外，在线处理与逻辑器件基本相同。可测试SRAM、DRAM、PRPM、EPROM约3000余种型号。下面对存储器件的测试方法进行说明。

1．只读存储器（PROM,EPROM）

学习：从好的器件中，读出所存储的内容，存成数据文件，作为测试的参照标准；

测试：读出被测器件中的内容，与学习内容进行逐字节比较，完全一致说明被测器件无故障；否则详细显示出错地址、该地址中的正确内容和当前出错内容。

2．读写存储器（SRAM,DRAM）

先写入01010101，读出检查、再写入10101010，再读出检查。两次正确说明该存储单元功能正常。由于测试会破坏存储内容，对于电池支持的SRAM存储器，除非有办法恢复原有内容，否则不能测试。在维修测试中，常常不需要检测存储器件的每一个存储地址。为此设施了两种测试方案：

a．快速测试
从存储器的全部地址单元中，按一定算法选取其中若干单元进行测试。

b．完全测试
对每一个存储单元都要进行检测。优点是测得仔细，缺点是测试时间较长。参见下面的EPROM学习界面。界面中以反汇编形式显示的学习内容。