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《汇能》测试仪—— HN2600DX/C

 

《汇能》HN2600DX/C

 

《汇能》HN2600DX/C专用于工业设备中的电子电路板的故障检测,以及小批生产中的IC器件质量检测。


HN2600DXC用于电路板故障检测时的特点是,能够在缺乏图纸资料,或完全不了解电路板工作原理的情况下,帮助快速定位故障元器件。近年来,IC器件的功能向大规模、复杂化;封装向细小化迅速发展。面向解决由此带来的问题,最新的HN2600DX/B汇聚多种当前广泛使用的检测技术;克服了最流行、最重要的ASA(VI)曲线的测试盲点;配合机械手组成半自动化电路板故障检测系统。


HN2600DX/C用于IC器件质量检测的特点是,不仅能够通过IC器件功能、ASA特征检测IC器件质量,而且能够按照IC器件PDF资料中规定的条件,检测多种IC器件主要直流参数测试是否达标,把这类测试仪上的IC器件质量检测能力发展到新阶段。

 

 

主要技术特色

 

 

a.iASA(improved ASA) 改进的ASA测试:

 

该技术已经通过国家发明专利初审。


在无图纸电路板故障检测中,ASA曲线测试技术无疑最流行、最强大、最好用。iASA克服了ASA在零电压附近的测试盲区,提高了故障检出率;

 

b.ASA动态参考

 

该技术正在申请国家发明专利。


使用ASA检测IC器件质量的问题之一是,存在着不稳定曲线——同一器件的同一管脚,每次测试得到的曲线偏差很大。这种情况在测试CMOS类器件时更常见一些。动态参考技术可以有效地解决该问题。

 

c.器件疑似故障度测算

 

解放军某学院曹教授发明,将申请国家发明专利。


在无图纸电路板故障检测中,ASA曲线测试只能将故障定位到电路结点,由结点到具体器件需要人工处理。该技术在一定条件下,能够给出器件发生故障的可能性。该技术可降低对维修者的技术要求,有利于实现测试自动化。

 

d.IC器件直流参数测试

 

在IC器件质量检测中,ASA测试、功能测试属于定性测试,主要检测器件“坏没坏”;参数测试属于定量测试,能够进一步检测器件“好不好”。HN1600DX/B能够按照器件技术标准的规定,测试器件的主要直流参数是否达标。目前能够测试的器件包括各种逻辑器件、光耦、运放等。


e.(半)自动化测试系统


HN2600DX/C已经实现了控制某种(单)飞针测试设备对电路板进行iASA测试。不仅大幅提高测试效率,同时较好解决了小脚距、高密度封装的测试问题。

 

 

主要测试硬件:

尺寸:

尺寸:560mm×170mm×390mm 重量:14Kg

ASA测试信号发生:

并行双路;

输出信号幅度:±1.0V——±28V,步距:信号幅度/256;

输出阻抗:0.1K/1K/10K/100K; @Vpp<=15.0V;1K/10K/100K@ Vpp>15.0V;

最大短路电流:150mA; @Vpp<=15.0V;28mA@ Vpp>15.0V;

测试信号频率:0.5——16KHz分档可设;

模拟通道:

通道数量:160;

最大电压:±28V;

通道属性:双属性;

通道电阻:<1毫欧;

精密直流参数测试单元:

数量:2个;

电压范围:±3mV——±12.0V;

电流范围:±3uA——±120mA;

数字器件功能测试通道::

测试通道:40个;总线隔离通道:8个;

输出脉冲幅度:全电平——满足测试最大±12V逻辑电平标准期间的要求;

最大通道电流:>200mA/通道;

最大测试频率:45Kvec/S

外供电源:

+3.3V、+5V、+12V、-12V;

 

主要测试功能:

 

详细了解各项测试功能请参见“《汇能》测试系统Ver6.0功能介绍 ”。

 

a. 探棒直接测试(ASA曲线)


用一根探棒测试、或用两根探棒对照测试器件管脚iASA特征。“直接测试”意味着不在电脑中存储数据,现学现比,像使用万用表一样简单、方便,主要用于检测不会重复维修、因此无需建库的电路板。


b.器件ASA(曲线)直接测试


支持探棒/测试夹/座测试器件管脚ASA曲线、同时显示所有管脚曲线,便于相互参照。


c.电路板图像建库测试


“建库测试”指把测试的iASA特征存储在电脑中,供日后使用,就像手边总有一块好板;“图像建库测试”指无论是测试好板特征、还是比对好、坏板的特征,都在被测试电路板的图像上进行。方便直观,所见所得。


d. 综合器件(离线)建库测试


“综合器件”指可测试多种不同类型的器件。“建库测试”指允许用户把器件的型号、功能、参数或ASA曲线等事先输入电脑——给器件建库,以后按照器件型号调用测试。测试分三种:“FT(功能)测试”、“hFT(混合功能)测试”和“ASA曲线测试”。可对任何类型的器件进行ASA曲线建库测试、可对“逻辑器件”、“电压型运放”、和几类“光耦”器件进行FT、hFT建库测试。

 

e.逻辑器件(在、离线功能)测试


支持在、离线检测器件库中的逻辑器件功能好坏。不存储测试结果。器件库中有约万余种器件型号。早期电路维修测试仪最主要的测试功能;

 

f.存储器件(在、离线功能)测试


支持使对器件库中的SRAM、DRAM、PROM、EPROM等存储器件进行功能好坏测试。不存储测试结果。器件库中有约3000余种器件型号。早期电路维修测试仪的主要测试功能之一;


g.用户自定义测试


支持自定义通道输出信号、从指定通道读回外部信号,由此实现用户定义的测试。存储测试结果。同时支持数字通道和模拟通道。

 

 

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